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试验A:低温——IEC 60068-2-1 2007

icon_pdf.gifIEC 60068-2-1 2007.pdf

一、标准概述

IEC 60068-2-1:2007是国际电工委员会(IEC)发布的环境试验基础标准之一,规定了电工电子产品在低温环境下的试验方法。低温环境是电工电子产品在高寒地区、冬季露天、高空、冷藏运输等场景中必然面临的环境因素。低温会导致材料力学性能改变、橡胶密封件硬化失效、润滑剂凝固、电池容量下降、液晶显示响应迟缓等问题。

二、适用范围

IEC 60068-2-1:2007适用于各类电工电子产品在低温环境下的适应性验证,主要包括:

  • 电子元器件:电阻、电容、电感、半导体器件、集成电路等

  • 电子设备:通信设备、计算机、仪器仪表、控制设备等

  • 电工产品:电机、电器、电缆、开关、连接器等

  • 含橡胶与塑料件的产品:密封件、外壳、线缆护套等

  • 含润滑剂的产品:轴承、齿轮、传动机构等

  • 含电池的产品:电池、电源模块等

该标准既适用于散热试样,也适用于非散热试样,两者的温度控制策略不同。

三、试验条件与所需仪器

试验条件

试验名称:低温试验,代号为试验A。

试验分类:

  • 试验Aa:试样在不通电状态下放入低温箱,温度快速变化

  • 试验Ab:试样在不通电状态下放入低温箱,温度缓慢变化

  • 试验Ad:试样在通电发热状态下放入低温箱,温度缓慢变化

温度条件:

  • 根据产品实际使用环境确定试验温度

  • 常用试验温度:+5℃、-5℃、-10℃、-25℃、-40℃、-55℃、-65℃等

  • 具体温度值按产品规范或实际使用剖面选取

  • 温度容差:一般±2℃(-25℃以上),±3℃(-25℃以下)

温度变化速率:

  • 试验Aa(温度突变):放入已预冷的低温箱,温度变化速率较快

  • 试验Ab/Ad(温度渐变):以不超过1℃/min的速率降温

  • 具体速率按试验类型和产品规范确定

持续时间:

  • 按产品规范确定,通常为2h、16h、24h、48h、96h等

  • 标准推荐典型持续时间:2h、16h、24h、48h、96h

  • 具体持续时间按产品规范或实际使用剖面选取

温度稳定判据:

  • 试样最冷点温度在规定时间内变化不超过2℃

  • 试样最冷点温度在规定时间内变化不超过2℃

  • 具体判据按产品规范确定

所需仪器

  • 低温试验箱:用于提供规定的低温环境,要求温度均匀性好、温控精度高,能在整个试验周期内稳定维持设定温度。箱体需具备强迫空气循环功能,确保温度均匀。容积需能容纳试样及测试工装,试样与箱壁间距≥15cm,箱体与试样体积比≥5:1。

  • 制冷系统:包括压缩机、冷凝器、蒸发器、节流装置等,用于提供低温环境。需具备足够的制冷量和降温速率,满足试验要求。

  • 温度控制系统:包括加热器、温度传感器、控制器,用于精确控制箱内温度,升降温速率可控。

  • 温度传感器:热电偶或RTD,用于监测试样表面温度和箱内温度,精度一般±1℃。散热试样测表面最冷点,非散热试样测内部最冷点。

  • 数据采集与记录系统:同时记录温度、时间等参数,生成完整试验报告,满足可追溯性要求。

  • 功能检测设备:用于在低温条件下对试样进行电气、机械性能检测,需能在低温环境下正常工作。

  • 必要的辅助工装:包括耐低温夹具、隔热垫片、导线低温防护套等,确保试样在低温环境下固定可靠且不受额外损伤。

四、试验过程与要求

试验目的

验证电工电子产品在低温环境下能否保持结构完好性和功能正常性,暴露因材料变脆、收缩、润滑剂黏度增大、电子元器件性能漂移、密封件失效等引发的缺陷。

试验设备

  • 低温试验箱

  • 制冷系统

  • 温度控制系统

  • 温度测量监控系统

  • 数据采集与记录系统

  • 功能检测设备

  • 专用夹具与工装

试验过程

  • 初始检测:在标准大气条件下进行外观、电气、机械性能全项检测,记录基准值。

  • 试样安装:将试样按实际安装方式固定在试验箱内,连接测试线缆和传感器。确保夹具不影响温度场,导线耐低温。

  • 降温:试验Aa:试样放入已预冷至规定温度的低温箱

              试验Ab/Ad:以不超过1℃/min的速率将箱内温度降至规定值

  • 温度稳定与保持:温度达到规定值后,保持规定时间。期间按产品规范进行功能检测,记录试样性能变化。温度稳定判据:试样最冷点温度在规定时间内变化不超过2℃。

  • 功能检测:在低温保持期间,按产品规范规定的时间节点进行功能检测。散热试样通常不进行功能检测,非散热试样可进行功能检测。

  • 升温:试验结束后,以不超过1℃/min的速率将温度升至恢复温度。严禁急热。

  • 取出试样:温度升至恢复范围后,将试样从试验箱中取出。

  • 恢复检测:试样在标准大气条件下恢复不少于1h,再进行全项检测并与初始值对比。

试验要求

温度容差:一般±2℃,±3℃。

温度变化速率:≤1℃/min,具体按产品规范。

持续时间:按产品规范确定,典型为2h至96h。

温度稳定判据:试样最冷点温度在规定时间内变化不超过2℃。

功能检测:按产品规范规定的时间节点和检测项目执行,检测线缆需耐低温。

试样数量:一般不少于3个,结果取算术平均值。

记录完整性:温度、时间、功能检测数据须全程记录。

判据明确:合格准则须在试验大纲中预先规定。

五、恢复条件

恢复步骤

停止制冷:到达规定试验时间后,停止制冷,让试样随箱体自然升温。

升温:以不超过1℃/min的速率将温度升至恢复温度,取5min滑动平均值。

取出试样:温度升至恢复范围后,将试样从试验箱中取出。

静置恢复:在标准大气条件下放置不少于1小时。

最终检测:恢复时间到达后立即进行外观、电气、机械性能全项检测,与初始值对比。

关键要求

  • 环境条件:温度15℃~35℃,相对湿度25%~75%,气压86kPa~106kPa

  • 恢复时间:≥1h,具体由产品规范规定

  • 操作顺序:先停止制冷,再升温,最后取出试样

  • 升温速率:≤1℃/min,严禁急热

  • 检测时机:恢复结束后立即检测,不得超时搁置

六、设备要求

  • 低温试验箱:强迫空气循环,温度均匀,容差±2℃或±3℃,升降温≤1℃/min。散热试样测表面最冷点,非散热试样测内部最冷点。试样与箱壁间距≥15cm,箱体与试样体积比≥5:1。

  • 制冷系统:制冷量满足降温速率要求,极限温度低于最低试验温度,具备过载保护和化霜功能。

  • 温度控制系统:加热功率满足精确控温要求,温度均匀性和波动度满足标准要求。

  • 测量监控系统:温度传感器精度±1℃,温度参数全程连续记录。

  • 夹具安装:耐低温材料,按IEC 60068-2-47要求安装,试样刚性固定防止滑移。

  • 功能检测设备:能在低温环境下正常工作,测试线缆需耐低温,不得影响箱内温度场。

结语

IEC 60068-2-1:2007是电工电子产品低温环境适应性验证的核心国际标准,其核心在于温度条件真实、升降温速率可控、温度稳定判据明确、恢复过程规范、判据明确。试验人员应重点关注温度均匀性、温度稳定判据、散热与非散热试样的区分、凝露处理以及数据的完整记录,确保试验结果的重复性与可比性,为电工电子产品的低温环境适应性设计和定型提供有效依据。



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